日本densoku便攜式薄膜測(cè)厚儀QNIx系列

更新日期：2024-05-11

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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商

生產(chǎn)地址：

簡(jiǎn)要描述：

日本densoku便攜式薄膜測(cè)厚儀QNIx系列
一種便攜式薄膜厚度計(jì)，可以通過(guò)麻煩的薄膜厚度測(cè)量來(lái)更輕松地提高生產(chǎn)效率。

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產(chǎn)品介紹

日本densoku便攜式薄膜測(cè)厚儀QNIx系列

QNIx系列產(chǎn)品允許您僅使用超輕巧的緊湊型儀器和探頭即可測(cè)量薄膜厚度，而無(wú)需攜帶笨重的薄膜厚度計(jì)。
無(wú)線測(cè)量無(wú)需電纜。除了有助于將測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)絺€(gè)人計(jì)算機(jī)外，它還有助于防止測(cè)量過(guò)程中跌落事故的發(fā)生。

QNIx系列的功能

無(wú)需進(jìn)行膜校準(zhǔn)即可進(jìn)行精確的膜厚度測(cè)量

通過(guò)在出廠時(shí)輸入16Point校準(zhǔn)數(shù)據(jù)來(lái)交付。這樣就無(wú)需進(jìn)行麻煩的薄膜校準(zhǔn)工作，并且可以進(jìn)行精確的薄膜厚度測(cè)量。

膜厚測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)男录夹g(shù)

在常規(guī)的測(cè)量?jī)x器中，通過(guò)用電纜連接儀器主體和個(gè)人計(jì)算機(jī)來(lái)傳輸測(cè)量數(shù)據(jù)。QNIx系列使用，只需將其插入U(xiǎn)SB端口即可進(jìn)行傳輸。可以更快，更輕松地查看測(cè)量數(shù)據(jù)。

超輕量無(wú)線測(cè)量?jī)x

探頭測(cè)得的數(shù)據(jù)被無(wú)線傳輸?shù)街鳈C(jī)。與傳統(tǒng)產(chǎn)品一樣，它也降低了被電纜卡住，阻礙和導(dǎo)致墜落事故的風(fēng)險(xiǎn)。此外，該探頭重30克，重量超輕，因此您不必隨身攜帶沉重的儀器。

難以斷裂且在被測(cè)物體上*跡的探頭

QNIx系列探頭由增強(qiáng)塑料包圍，可將耐用性提高30％。即使發(fā)生故障，也很容易拆卸和維修，從而縮短了維修時(shí)間。此外，還附有紅寶石筆尖，因此可以安全地執(zhí)行測(cè)量而不會(huì)損壞要測(cè)量的物體（樣品）。

QNIx系列比較規(guī)格表

	QNIx 8500	QNIx 4500/4200	QNIx 7500	QNIx Carcheck系統(tǒng)	方便的QNIx
可測(cè)量的電影	[F]鐵材料上的非磁性涂層 [N]非鐵材料上的非導(dǎo)電涂層 [FN]鐵/非鐵材料上的非磁性/非導(dǎo)電涂層			[FN]鐵/有色金屬材料上的非磁性/非導(dǎo)電涂層	[FN]鐵/鋁材料上的非磁性，非導(dǎo)電膜厚度
材料識(shí)別	黑色金屬和有色金屬的自動(dòng)識(shí)別交換	黑色金屬和有色金屬的自動(dòng)識(shí)別交換	用戶的轉(zhuǎn)換	黑色金屬和有色金屬的自動(dòng)識(shí)別交換	鐵/有色，自動(dòng)識(shí)別模式轉(zhuǎn)換
測(cè)量原理	[F]磁通量（霍爾效應(yīng)） [N]渦流
測(cè)量范圍	0至2,000μm （可選：5,000μm）	0-3,000微米	0至2,000μm （可選：5,000μm）	0-5,000微米	0-500微米
解析度	0.1μm，1μm [M] 0.01μm	1微米	0.1微米	0.1微米，1微米	5微米
配置格式	0點(diǎn)校正用戶校準(zhǔn)：1 [M] 100件	0點(diǎn)校正	0點(diǎn)校正	沒(méi)有校準(zhǔn)功能	沒(méi)有校準(zhǔn)功能
準(zhǔn)確性	±（1微米+ 2％） ±3.5％（2毫米或更多） [T] ± （0.3微米+ 2％）	±（2微米+ 3％）	±（1微米+ 3％）	±（1微米+ 2％） ±3.5％（2毫米或更多）	±（10微米+ 5％）
測(cè)量速度	1,500ms （約40次/分鐘） [T] 920ms （約65次/分鐘） [R] 1,600ms （約37次/分鐘）	600ms （約70次/分鐘）	1,300ms （約46次/分鐘）	1,500ms （約40次/分鐘）	600ms （約100次/分鐘）