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X射線熒光測量儀 XDV ® -μ PCB
更新日期：2024-05-14
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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：
簡要描述：
X射線熒光測量儀 XDV ® -μ PCBFISCHERSCOPE ® X-RAY XDV ® -μ PCB配備Polycapillary Optics的高性能熒光X射線膜厚測量儀，專為大型印刷電路板和零件微結(jié)構(gòu)部件的材料分析和膜厚測量而設計。
X射線熒光測量儀 XDV ® -μ PCB
X射線熒光測量儀 XDV ® -μ PCB
日本進口fischerX射線熒光測量儀 XDV ® -μ PCB
特征
- 用于測量大型印刷電路板微結(jié)構(gòu)部件的模型
- 通過采用創(chuàng)新的多毛細管透鏡，即使在非常小的測量光斑中也可以獲得較大的激發(fā)強度。
主要規(guī)格
它是一種配備多毛細管透鏡的高性能熒光X射線測量設備，專為大型印刷電路板和零件微結(jié)構(gòu)部件的材料分析和膜厚測量而設計。
| 模型 | XDV-μPCB |
|---|---|
| 測量元件范圍 | 鋁 (13) -U (92) |
| X射線探測器 | 硅漂移探測器 (SDD) |
| X射線管 | 微調(diào)焦管 |
| 初級過濾器 | 4種 |
| X 射線光學元件 / 尺寸 | 多毛細管透鏡 Φ20µm（選項 Φ10µm） |
| 車身尺寸 | 670 x 885 x 660mm（寬x深x高） |
| 有效樣品放置區(qū) | 600 x 600mm（寬 x 深） |
| 能量消耗 | 高達 120W |
主要應用
- 大型印刷電路板的測量
- 薄膜厚度測量
- 大型印刷電路板的測量
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